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上海申方源仪器有限公司

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首页 > 供应产品 > L200双功能膜厚仪
L200双功能膜厚仪
品牌: 美国LEE测厚仪
型号: L200
规格: 台装
单价: 面议
最小起订量:
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2014-05-20 10:08
 
详细信息
 L200双功能膜厚仪

型号:L200 

简单介绍 :
L200双功能膜厚仪采用了磁感应和电涡流技术测厚法,是一种超小型测量仪。
可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等),也可测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
本仪器可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量;该仪器坚固耐用、用途广泛,可单手操作。 

详细介绍:
美国LEE INSTRUMENTS公司是专业生产涂层测厚仪的公司,产品精度高,稳定可靠,坚固耐用!一直为美国军方和航空航天行业独自使用,近年来美国才允许出口到国外!
L200涂镀层测厚仪设计便携耐用,使其能在苛刻条件下正常使用,具有一键操作功能,无须校准,也不用重设即可进行下一次测量,无需对操作人员进行培训即可操作。 

L200 测厚仪功能:
可进行零点校准及全量程校准。红宝石防磨探头。可对探头进行基本校准。具有自动关机功能。操作过程有蜂鸣声提示。有欠压指示功能。有错误提示功能。 

L200双功能膜厚仪指标:
*测量原理:磁感应法和涡流法(Fe/NFe两用探头)
*测量范围:1~1250μm
*测量准确度:±[(1~3)%H+1] μm(全量程校准)
*分辨率:1μm
*工件要求:最小曲率半径(mm)凸5 / 凹 25 ;
                      接触最小面积直径10mm×10mm;
                      基体最小厚度Fe:0.2 mm;NFe:0.05mm
*使用环境:温度0-60摄氏度;湿度 20%-75% ;无磁场环境
*电源:四节1.5伏AAA电池
*外形尺寸:112 ×69×28mm
*重量:82 g(不含电池)
标准配置:
主机、标准校准片、校准铁基体和铝基体、使用指南、英文检验报告证书、手提箱、挂绳及电

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